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日本TOPCON UVR-300紫外線強度計為固化、殺菌與老化試驗提供基準標尺

發(fā)布時間： 2025-11-26　　點擊次數(shù)： 4次

在UV膠固化、半導(dǎo)體光阻曝光、水處理殺菌以及高分子老化測試中，“365 nm波段能量"直接決定工藝窗口與測試結(jié)果。日本TOPCON（拓普康）UVR-300紫外線強度計，以μV級光電流放大、余弦修正光學(xué)結(jié)構(gòu)和可溯源校準，實現(xiàn)0.1 µW/cm2分辨率、±3%測量不確定度，為實驗室與產(chǎn)線提供一款“一機三探、波段可換"的UV量化基準。
一、μV級前端放大，0.1 µW/cm2分辨率
采用低噪聲JFET+屏蔽輸入級，暗電流<1 pA，等效輸入噪聲0.3 µV，使0.1 µW/cm2微弱信號仍可穩(wěn)定分辨；
24-bit ΔΣADC，更新速率5 Hz，既保證快速固化跟隨，又抑制高頻噪聲，滿足JIS C 1609與CIE S017光譜響應(yīng)要求
。
二、365 nm為主，三探頭可換
標配UVD-365探頭（中心波長365 nm，半高寬10 nm），另可選254 nm、313 nm、405 nm、可見PAR等7款窄帶探頭，旋扣式更換，系數(shù)自動識別，一表多用，覆蓋膠印、UV-LED固化、低壓汞燈殺菌、氙燈老化全場景
。
三、余弦修正+溫度補償，角度寬容±70°
探測器前窗采用PTFE擴散板+石英半球罩，余弦誤差f2≤3%（0-70°入射角），解決產(chǎn)線反光與多燈陣列造成的大角度輻射；內(nèi)置Pt1000溫度傳感器，-10-50℃全范圍自動補償，系數(shù)寫入探頭EEPROM，更換探頭無需再次校準
。
四、大動態(tài)范圍，雙量程自動切換
低量程：0-19.99 mW/cm2，分辨率0.1 µW/cm2，適合LED點光源近距離測量；
高量程：0-199.9 mW/cm2，分辨率1 µW/cm2，滿足高壓汞燈、金屬鹵素燈老化箱高強度輸出；
自動換擋無跳數(shù)，峰值保持功能可捕捉<100 ms脈沖峰值，用于閃光燈曝光能量測試
。
五、數(shù)據(jù)輸出與審計追溯
USB-C虛擬串口，每秒輸出 irradiance (µW/cm2)、累積劑量 (mJ/cm2) 與溫度，可直接接入PLC或數(shù)據(jù)采集卡；
內(nèi)置8MB存儲，可離線記錄7天1s數(shù)據(jù)，配套軟件自動導(dǎo)出CSV，滿足ISO 17025審計追蹤要求。

七、技術(shù)規(guī)格一覽
測量波長：標配365 nm（254/313/405 nm可選）
量程：0-199.9 mW/cm2，雙檔自動
分辨率：0.1 µW/cm2（低量程）
不確定度：±3%（k=2，@25℃）
余弦誤差：≤3%（0-70°）
響應(yīng)時間：0.2 s（0-90%）
數(shù)據(jù)接口：USB-C（虛擬串口）+離線記錄
電源：內(nèi)置鋰電>40h，或USB-C 5V供電
工作環(huán)溫：-10-50℃，RH<85%
結(jié)語
日本TOPCON UVR-300以μV級前端、365 nm窄帶、余弦修正與USB即傳，為UV固化、殺菌、老化與半導(dǎo)體曝光提供0.1 µW/cm2級精度的“量化標尺"，是實驗室標定、產(chǎn)線監(jiān)控與工藝追溯的理想紫外線強度基準
。

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